Παρόλο που η (μικροσκοπία) STXM έχει ήδη χρησιμοποιηθεί για τη μελέτη κυμάτων σπιν σε μεταλλικά λεπτά φιλμ, ο (γρανάτης) YIG διαχρονικά έχει παραμείνει αδιαπέραστος στην όραση ακτίνων Χ: το παχύ, μονοκρυσταλλικό υπόστρωμα που δίνει στο υλικό τις εξαιρετικές ιδιότητές του εμποδίζει επίσης τις ακτίνες Χ. Για να εργαστούν για αυτό το εμπόδιο, ο Johannes Förster, του Ινστιτούτου Max Planck για τα Ευφυή Συστήματα στην Γερμανία και οι συνεργάτες του χρησιμοποίησαν μηχανικό στιλβωτικό και δέσμες ιόντων για να καθαρίσουν παράθυρα στο υπόστρωμα των δυο δειγμάτων YIG. Λωρίδες χαλκού στα δείγματα μετέφεραν εναλλασσόμενα ρεύματα που διέγειραν κύματα σπιν στο YIG (συνθετικό γρανάτη σιδήρου-υττρίου). Με εστίαση ακτίνων Χ μέσα στο δείγμα δια μέσου των παραθύρων του υποστρώματος, η ομάδα μπόρεσε να δει άμεσα κύματα σπιν με κυματισμό μικρό όσο 100 nm, να απομακρύνονται από τις λωρίδες χαλκού.
Ενώ τα κύματα σπιν συμπεριφέρθηκαν όπως αναμένονταν, η ομάδα λέει ότι τα πειράματά της δείχνουν τη δυνατότητα της μικροσκοπίας ακτίνων Χ να παρατηρήσει κύματα σπιν σε ανάλυση που υπερβαίνει αυτή που είναι δυνατή με οπτικά μικροσκόπια.
Δεν υπάρχουν σχόλια :
Δημοσίευση σχολίου